Технические науки2005Методы исследования структуры кристаллов. Фазовый анализ и прецизионные измерения параметра решеткиАндрей Михайлович Мильвидский
Технические науки2006Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопияВладимир Тимофеевич Бублик, Андрей Михайлович Мильвидский