Технические науки
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
Жанр — Технические науки; год издания — 2006; язык — Русский; формат — pdf.
О книге
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.
Продолжить выбор
Похожие книги
Методы исследования характеристик и свойств металлов. Исследование металлов на рентгеновском дифрактометре «Дифрей»
Метрология, стандартизация и взаимозаменяемость. Нормирование точности
Метрология, стандартизация и сертификация. Основы метрологии в электронике
Метрология, технические измерения и приборы
