Программирование

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

Name: Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Author: И. О. Атовмян
ISBN: 9785457614796

Жанр — Программирование; серия — Прикладная информатика. Научные статьи; год издания — 2014; издательство — Синергия; язык — Русский; формат — pdf; ISBN — 9785457614796.

Читать полностью на ЛитРес → Читать ознакомительный фрагмент

Переход ведёт на сайт партнёра. Ссылка является партнёрской, цена для читателя не меняется.

О книге

В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.

Темы: цифровые технологии, тестирование, модели и методики, алгоритмы

Продолжить выбор