Перейти к содержанию
Книги рядом
Обложка книги «Atomic Layer Deposition. Principles, Characteristics, and Nanotechnology Applications»

Зарубежная образовательная литература

Atomic Layer Deposition. Principles, Characteristics, and Nanotechnology Applications

Marja-Leena Kääriäinen, Tommi Kääriäinen, David Cameron, Arthur Sherman

Жанр — Зарубежная образовательная литература; язык — Английский; формат — pdf.

Переход ведёт на сайт партнёра. Ссылка является партнёрской, цена для читателя не меняется.

О книге

Since the first edition was published in 2008, Atomic Layer Deposition (ALD) has emerged as a powerful, and sometimes preferred, deposition technology. The new edition of this groundbreaking monograph is the first text to review the subject of ALD comprehensively from a practical perspective. It covers ALD's application to microelectronics (MEMS) and nanotechnology; many important new and emerging applications; thermal processes for ALD growth of nanometer thick films of semiconductors, oxides, metals and nitrides; and the formation of organic and hybrid materials.

Продолжить выбор

Похожие книги

Весь жанр →
Обложка книги «Forensic Microbiology»

Зарубежная образовательная литература

Forensic Microbiology

Jeffery K. Tomberlin, M. Eric Benbow, Jessica L. Metcalf, David O. Carter

Обложка книги «Green Materials for Electronics»

Зарубежная образовательная литература

Green Materials for Electronics

Siegfried Bauer, Mihai Irimia-Vladu, Niyazi S. Sariciftci, Eric D. Glowacki

Atomic Layer Deposition. Principles, Characteristics, and Nanotechnology ApplicationsMarja-Leena Kääriäinen, Tommi Kääriäinen, David Cameron, Arthur Sherman
Читать полностью