Перейти к содержанию
Книги рядом
Обложка книги «Соврменные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии»

Физика

Соврменные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии

Сергей Иванович Валянский, Евгений Кадырович Наими

Жанр — Физика; год издания — 2011; язык — Русский; формат — pdf.

Переход ведёт на сайт партнёра. Ссылка является партнёрской, цена для читателя не меняется.

О книге

Настоящее пособие является первым из планируемых учебных пособий под общим названием «Современные методы исследования наноструктур». Цель данного пособия – дать представление о бурно развивающемся в последнее время методе исследования вещества с помощью поверхностных плазмон-поляритонных волн и, в частности, о методе оптической поверхностно-плазмонной микроскопии. Рассмотрены вопросы теории взаимодействия электромагнитных волн с веществом (нормальная и аномальная дисперсия), условия возбуждения и распространения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) на границе раздела металл – диэлектрик, дисперсионное соотношение для ПЭВ, различные типы ПЭВ. Описаны существующие методы получения и регистрации ПЭВ. Приведены многочисленные примеры применения поверхностного плазмонного резонанса (ППР), в том числе: определение оптических характеристик металлов с помощью ПЭВ, оптический микроскоп на поверхностных плазмонах, ППР-спектроскопия биомолекул, сенсорные устройства и др. Дается представление о новом классе материалов – метаматериалах и возможностях их применения (суперлинза, фотонные кристаллы). Очерчены направления развития новых отраслей науки и техники, таких как нанофотоника и плазмоника.

Продолжить выбор

Похожие книги

Весь жанр →
Обложка книги «Теория и практика современной акустооптики»

Физика

2015

Теория и практика современной акустооптики

Владимир Яковлевич Молчанов, Александр Игоревич Колесников, Константин Геннадьевич Шаповаленко, Валерий Наумович Нарвер, Юрий Иванович Китаев, Аркадий Зельманович Розенштейн, Николай Пантелеевич Солодовников

Соврменные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопииСергей Иванович Валянский, Евгений Кадырович Наими
Читать полностью