Перейти к содержанию
Книги рядом
Обложка книги «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов»

Технические науки

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Дмитрий Григорьевич Крутогин, Олег Игоревич Рабинович

Жанр — Технические науки; год издания — 2013; язык — Русский; формат — pdf.

Переход ведёт на сайт партнёра. Ссылка является партнёрской, цена для читателя не меняется.

О книге

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Продолжить выбор

Похожие книги

Весь жанр →
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материаловДмитрий Григорьевич Крутогин, Олег Игоревич Рабинович
Читать полностью